服務(wù)熱線
0574-27976124
簡要描述:半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀適用范圍:1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 自動(dòng)化度 | 手動(dòng) |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,農(nóng)業(yè),能源,印刷包裝 |
半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀操作手冊(cè)
功能描述Description:
參照標(biāo)準(zhǔn):
1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)(ASTM F84).
2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.
3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》.
4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》.
雙電組合測(cè)試方法:
利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試
半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀操作手冊(cè)
規(guī)格型號(hào)/ model | FT-341 | FT-342 | FT-343 | FT-345 | FT-346 | FT-347 |
1.方塊電阻 | 10-5~2×105Ω/□ | 10-4~2×105Ω/□ | 10-3~2×105Ω/□ | 10-3~2×104Ω /□ | 10-2~2×105Ω/□ | 10-2~2×104Ω/□ |
2.電阻率 | 10-6~2×106Ω-cm | 10-5~2×106Ω-cm | 10-4~2×106Ω-cm | 10-4~2×105Ω-cm | 10-3~2×106Ω-cm | 10-3~2×106Ω-cm |
3.測(cè)試電流 | 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA | 0.1μA.μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100 mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA | 0.1μA、1μA、10μA,100µA,1mA,10mA,100mA | 1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA |
4.電流精度 | ±0.1% | ±0.2% | ±0.2% | ±0.3% | ±0.3% | ±0.3% accuracy |
5.電阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% accuracy |
6.顯示讀數(shù) | 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 | |||||
7.測(cè)試方式 | 雙電測(cè)量 | |||||
8.電源 | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W | |||||
9.誤差 | ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果) | |||||
10.選購功能 | 選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測(cè)試平臺(tái);5.標(biāo)準(zhǔn)電阻 | |||||
11.測(cè)試探頭t | 探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針 |
公司地址
浙江省寧波市江北區(qū)慈城鎮(zhèn)張嘉路91弄9號(hào)電子郵箱
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